日本日置IM3511-50 LCR测试仪

日本日置IM3511-50 LCR测试仪

精巧，5ms快速测量LCR
 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
高精度： ± 0.08%
内置比较器

日本日置IM3511-50 LCR测试仪

日本日置LCR测试仪IM3511-50的选件：

 4端子探头L2000:DC~8MHz，1m长
4端子开尔文夹9140-10:DC~200kH，50 Ω，1 m长
镊形探头L2001:线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
测试治具9261-10:线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试治具9262:DC～8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263:直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB连接线9151-02:2m长