日置IM3523 LCR测试仪 频率40Hz~200Khz

日置IM3523 LCR测试仪 频率40Hz~200Khz

日本日置LCR测试仪IM3523应用于生产线和自动化测试领域的理想选择，基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)，在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。内置比较器和BIN功能，2ms的快速测试时间，LCR测试仪IM3523不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。

日置IM3523 LCR测试仪 频率40Hz~200Khz

日本日置LCR测试仪IM3523的选件：

 4端子探头L2000:DC~8MHz，1m长
4端子开尔文夹9140-10:DC~200kH，50 Ω，1 m长
镊形探头L2001:线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
测试治具9261-10:线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
测试治具9262:DC～8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263:直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB连接线9151-02:2m长