销售咨询热线:
13375172886
搜索
网站首页
关于我们
新闻动态
技术文章
产品展示
资料下载
在线留言
联系我们
产品展示
当前位置:
首页
>
产品展示
> >
半导体参数分析仪
> 半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1505A
半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1505A
描述:
半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1505A主要特性与技术指标适合功率器件表征的综合解决方案,高达 1500 A 和 10 kV中等电流测量和高电压偏置(例如,500 mA,1200 V)μΩ 导通电阻测量功能高电压偏置时,可进行精确的 sub-pA 电平电流测量在 -50 ℃ 至 +250 ℃ 温度范围内进行
更新时间:
2023-06-09
产品型号:
所在城市:
苏州市
厂商性质:
代理商
访问量:
696
联系我们
在线留言
产品中心
Product classification
半导体参数分析仪
半导体表征系统
查看全部
相关文章
Relevant Articles
产品介绍
半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1505A
主要特性与技术指标
适合功率器件表征的综合解决方案,高达 1500 A 和 10 kV
中等电流测量和高电压偏置(例如,500 mA,1200 V)
μΩ 导通电阻测量功能
高电压偏置时,可进行精确的 sub-pA 电平电流测量
在 -50 ℃ 至 +250 ℃ 温度范围内进行全自动热测试
广泛的器件测量功能
可在高达 3000 V 直流偏置时执行全自动电容测量(Ciss、Coss、Crss 等)
10 μs 高功率脉冲测量
封装器件和晶圆上 IGBT/FET 栅极电荷测量
高电压/强电流快速切换选件,适用于 GaN 电流崩塌效应表征
多达 5 个高电压(3 kV)电源/测量通道,提供
的灵活性
多达 5 个高电压(3 kV)电源/测量通道,提供
的灵活性
改进的测量效率
在高电压和强电流测量之间自动切换,无需重新布线
自动测试电路形成,可用于封装器件和晶圆上器件的晶体管结电容(Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等)测量
具有互锁机制的标准测试夹具,可进行封装功率器件测试
支持高达 200 A 和 10 kV 的高功率晶圆上测试
示波器视图支持对应用电压和电流波形的验证
MS Windows EasyEXPERT 软件简化了数据管理和分析流程
可升级和可扩展的硬件体系构
半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1505A
广泛的测量模块选择
支持具有高达 6 个连接引脚的高功率器件
产品咨询
留言框
产品:
您的单位:
您的姓名:
联系电话:
常用邮箱:
省份:
请选择您所在的省份
安徽
北京
福建
甘肃
广东
广西
贵州
海南
河北
河南
黑龙江
湖北
湖南
吉林
江苏
江西
辽宁
内蒙古
宁夏
青海
山东
山西
陕西
上海
四川
天津
新疆
西藏
云南
浙江
重庆
香港
澳门
台湾
国外
详细地址:
补充说明:
验证码:
请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
上一篇:
是德半导体器件分析仪B1500A
下一篇:
半导体参数分析仪,曲线追踪仪B1542A
电话
0512-6624-8998
在线交流
微信扫一扫
返回顶部